English version

28.03.2018

Система измерения толщины

Система предназначена для высокоточного измерения листовых материалов, таких как ленты, доски, пластины и т.д. Это автономная программно-аппаратная система, состоящая из лазерных датчиков (или контактных энкодеров) и устройства индикации.

Система может поддерживать неограниченное число точек контроля толщины. Каждая точка контроля это один датчик, установленный по схеме №1 (Рисунок 1, слева) или два датчика, установленных по схеме №2 (Рисунок 1, справа).

По схеме №1 толщина материала определяется как разница расстояний от базовой поверхности, на которой располагается материал, до верхней поверхности материала, измеренных датчиком.

По схеме №2 толщина материала определяется как разница расстояний до двух поверхностей материала, измеренных каждым из датчиков. Для обеих схем измерения положение датчиков калибруется по отношению к базовой поверхности, либо по отношению друг к другу, соответственно.

Sheet Materials Thickness Measurement System RF580
Рисунок 1. Схема №1 с одним датчиком (слева) и схема №2 с двумя датчиками (справа)

 

Устройство индикации предназначено для конфигурации и калибровки системы, получения и обработки данных от датчиков и отображения результатов измерения.

Система успешно применяется в массовом производстве для контроля толщины листов металла.

Более подробную информацию о системе можно найти в Руководстве по эксплуатации Измерителя толщины листовых материалов.

 

← Вернуться к списку новостей

© 2001 – 2018 ООО «РИФТЭК»

Логойский тракт, 22, Минск, Республика Беларусь

Тел/факс: +375 (17) 281-35-13
Тел/факс: +375 (17) 281-36- 57
Мобильный:   +375 (29) 655-72-55


E-mail: info@riftek.com

Наши представители в Российской Федерации

  • Страна*:
  • Имя*:
  • Компания*:
  • E-mail*:
  • Подтвердите ваш e-mail*:
  • Номер телефона:
  • Сообщение*:

* - Обязательно для заполнения

Отправить