English version
  • Страна*:
  • Имя*:
  • Компания*:
  • E-mail*:
  • Подтвердите ваш e-mail*:
  • Номер телефона:
  • Сообщение*:

* - Обязательно для заполнения

Отправить

Система измерения толщины

Устройство предназначено для бесконтактного измерения толщины листовых материалов (лент, досок, пластин и т.п.) и представляет собой автономный программно-аппаратный комплекс, включающий лазерные датчики (либо контактные энкодеры) и устройство индикации.


Технические характеристики системы могут быть изменены под конкретную задачу.

Узнать ценуЗадать вопрос
Модели
  • Система измерения толщины РФ580

    Система измерения толщины РФ580

     

    Диапазон измерения толщины, мм по заказу
    Погрешность измерения толщины, мм ±0,1% рабочего диапазона датчика
    Посмотреть спецификацию →
Спецификация

Система измерения толщины РФ580. Спецификация

Параметр Значение
Диапазон измерения толщины, мм по заказу
Погрешность измерения толщины, мм ±0,1% рабочего диапазона датчика (для лазерных датчиков) или
в соотвествии со спецификакцией на контактные датчики
Входной интерфейс подключения датчиков RS485
Выходной интерфейс, передача результата Ethernet
Быстродействие, измерений/с < 9400
Напряжение питания, В сеть переменного тока с частотой 50 (± 1) Гц, номинальным напряжением 220 В с допускаемым отклонением напряжения ±10 %
Потребляемая мощность, Вт 10
Условия эксплуатации:
  Температура окр. воздуха, °С +1...+35
Отн. влажность воздуха, % 65 (при 25°С)

Примечание: технические характеристики системы могут быть изменены под конкретную задачу.

Принцип работы

Устройство может поддерживать неограниченное число точек контроля толщины. Каждая точка контроля это один датчик, установленный по схеме №1 (рисунок 1, слева) или два датчика, установленных по схеме №2 (рисунок 1, справа).

По схеме №1 толщина материала определяется как разница расстояний от базовой поверхности, на которой располагается материал, до верхней поверхности материала, измеренных датчиком.

По схеме №2 толщина материала определяется как разница расстояний до двух поверхностей материала, измеренных каждым из датчиков.
Для обеих схем измерения положение датчиков калибруется по отношению к базовой поверхности, либо по отношению друг к другу, соответственно.

Thickness Measurement System Structure

Рисунок 1. Схема №1 с одним датчиком (слева) и схема №2 с двумя датчиками (справа)

© 2001 – 2018 ООО «РИФТЭК»

Логойский тракт, 22, Минск, Республика Беларусь

Тел/факс: +375 (17) 281-35-13
Тел/факс: +375 (17) 281-36- 57
Мобильный:   +375 (29) 655-72-55


E-mail: info@riftek.com

Наши представители в Российской Федерации

  • Страна*:
  • Имя*:
  • Компания*:
  • E-mail*:
  • Подтвердите ваш e-mail*:
  • Номер телефона:
  • Сообщение*:

* - Обязательно для заполнения

Отправить